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一、典型应用：5 min 200 m/s2。
二、设备原理：将待测试样品固定在样品夹持装置上，通过驱动机构产生恒定的加速度负荷，使样品以一定的速度冲击测试面。在冲击过程中，传感器系统监测样品的加速度、速度等参数，并将数据传输到控制系统。控制系统根据预设的参数，对加速度负荷进行调节，使冲击力保持恒定。测试完成后，控制系统会对测试数据进行处理和分析，得出样品的冲击性能指标。
三、备注：用于确定电子元器件、小型设备和其他电工电子产品经受动态过载环境所产生的力（重力除外）作用下，结构的适应性和性能是否良好，以及评定一些元器件的结构完好性，并验证这些元件在预期的使用环境下经受复合加速度应力是否正常以及结构的承受能力。
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